觸控面板驗證量測技術講座

2010年09月16日 星期四 【科技日報報導】
活動名稱: 觸控面板驗證量測技術講座
開始時間: 九月十六日(四) 13:30 結束時間: 九月十六日(四) 16:30
主辦單位: CTimes
活動地點: 新領域教育中心401室-北市館前路49號4樓
聯絡人: 張小姐 聯絡電話: 02-2585-5526 分機 225
報名網頁: http://www.ctimes.com.tw/cf/ShowCF.asp?O=201009161330003554
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由於具有直覺性操控的優勢,觸控面板的重要性與日俱增,應用領域也不斷拓展,使得相關產業的前景一片看好。根據DisplaySearch的研究報告指出,從現在到2015年為止,整個觸控面板模組產值之年複合成長率將達16.4%,其中以電阻式及投射電容式為主流,而投射電容式的成長最快。

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僅管市場看好,但觸控產業仍面臨許多困難和挑戰,尤其是在良率方面仍然不高,造成製造成本難以降低。舉例來說,為迴避專利及滿足特殊需求,今日觸控面板廠商往往需開發新的電極圖樣設計,但也因而產生製造與分析上的困難。

因此,當前觸控產業急需建立相關產業檢測標準與驗證平台,以做為整個產業上、中、下游產品檢驗之根據,並建立包括材料、模組及系統產品標準量測方法與流程。例如觸控面板製程量測技術大致分成基本規格及缺點、光學特性與電氣特性等三大塊量測技術。

工研院量測中心多年來致力於協助國內觸控產業建構參數產業標準,扮演著溝通整合及共通檢測驗證平台建置之角色。此次特邀請該中心戴鴻名博士,針對觸控面板開發之驗證需求分析、觸控面板生產流程與量測技術及觸控面板產業標準建構進行剖析介紹,是您不容錯過的重要講座。


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