監控、測試及測量系統解決方案研討會

2008年03月31日 星期一 【科技日報報導】
活動名稱: 監控、測試及測量系統解決方案研討會
開始時間: 四月二十九日(二) 09:00 結束時間: 四月二十九日(二) 17:00
主辦單位: 美國國家半導體
活動地點: 喜來登大飯店B2 祿廳-台北市忠孝東路一段 12 號
聯絡人: 聯絡電話:
報名網頁:
相關網址: http://wwwd.national.com/event/Security_TM_2008d.nsf

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監控、測試及測量系統廣泛用於汽車、醫療、軍事、生產及測試等多種不同行業。美國國家半導體是市場上居領導地位的類比晶片供應商,一直致力於開發可支援不同系統設計的創新製程技術,以確保產品不僅可發揮極高的能源效率,而且性能更穩定可靠。