印刷電路板應變和落下量測技術研討會

2007年11月29日 星期四 【科技日報報導】
活動名稱: 印刷電路板應變和落下量測技術研討會
開始時間: 十二月十八日(二) 13:00 結束時間: 十二月十八日(二) 17:00
主辦單位: 美商國家儀器
活動地點: 國泰金融會議廳A廳-台北市松仁路9號
聯絡人: 倪小姐 聯絡電話: (02)2377-2222 轉 5188
報名網頁:
相關網址: http://sine.ni.com/apps/utf8/nievn.ni?action=display_offerings_by_event&event_id=945&country=TW&site

美商國家儀器將於18、19及20日分別在台北、桃園、新竹舉辦印刷電路板(PCB)應變量測和落下量測技術研討會,透過此研討會,將能了解到應變測試對印刷電路板生產的品質日漸重要的同時,如何用NI 的軟硬體來完成 IPC 9701 和 IPC 9704 標準應變測試規範。

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此研討會中,擁有豐富PCB產業應用案例的巨克富科技將分享近期業界成功案例。 此外,虛擬儀控已重新定義資料擷取的方法,可了解到如何使用NI的軟硬體,在短短數分鐘之內完成資料記錄器。多種實機展示,利用 LabVIEW 與NI 資料擷取硬體完成您的測試需求。


關鍵字: 電路板   巨克富科技   測試系統與研發工具