USB 3.0在2008年即已完成標準定義，在USB 2.0的廣大基礎下，市場對USB 3.0十倍速方案的成長非常看好，也吸引眾多廠商一窩蜂的投入搶市。然而，正因十倍速的高速傳輸特性，造成從晶片到系統、設備等各個層面都需要重新設計與測試的難題，大大拖累整個市場建置與接受的速度。
     如今標準、晶片組、驅動程式等問題雖然已大致獲得解決，但在系統、設備的設計上，仍有一些難解的實務議題待克服。這些難題大多圍繞在訊號的干擾與傳輸衰減上，包括串音、電磁干擾（EMI）和射頻干擾（RFI）等三大干擾問題，以及高頻傳輸及大電流傳輸的訊號衰減問題。
     很顯然地，USB 3.0要真正起飛，得好好先搞定系統設計上的種種問題。台灣無疑是USB 3.0的技術重鎮，只要能順利突破這些問題，相信就能更快享受到USB 3.0成長帶來的果實。為此，CTIMES技術論壇特舉辦《USB 3.0干擾/衰減測試及解決策略》，邀請最具代表性的測試與設計實務專家，與業者共同探討這些關鍵性的開發議題。

授課對象：從事USB3.0相關產品設計規劃，並要求提升產品功能、效能之系統、電路、晶片工程師，或產品經理、採購、市場研究員
報名費用：定價2,800元;早鳥價1/3日前2,300元; 團體三人以上2,000/人
報名/洽詢：02-2585-5526 分機 335 郭小姐．madeline@ctimes.com.tw
活動地點：台大集思會議中心洛克廳(台北市羅斯福路四段85號B1 (國立台灣大學第二活動中心內))MAP
活動時間：2013年1月10日(四) 13:30-16:30