巨有科技（pgc）於日前宣佈，暨採購SoC測試機台後，近期已再新添購Credence D-10和Chroma 3650系列的測試設備，以擴充及提昇整體SoC測試服務的能力與效率。特別針對MCU、無線基頻、顯示驅動、LED / LCD驅動、Power IC、NAND flash controller、Switch和消費性混合訊號元件和PC 周邊相關的IC等，提供完整且具成本效益的整體測試解決方案。

巨有科技擴充SoC測試設備

根據巨有科技表示，該測試方案配備完整的測試模組，如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG記憶體模組、高電壓模組和SCAN模組，可大幅降低產品原有的工程開發及量產測試成本，不但具備高產能及多功能的晶圓片和封裝成品測試能力，能明顯提供客戶高品質及低成本優勢，以適應目前對價格日益敏感的市場變動及需求。

巨有科技總經理賴志賢並表示，處於系統單晶片的時代潮流，IC測試與驗證經常需要比IC設計開發時間多出數倍，因此，如何有效協助顧客解決及突破IC測試方面的技術問題及相關瓶頸，巨有科技除了在設計階段導入可測性設計如: DFT（Design for Test）、ATPG、Memory-BIST、Boundry Scan等設計工具環境之外，也持續投資全套完整的SoC晶片實體測試與驗證之設備機台。

此外，賴總經理更進一步說明，SoC產業會隨著科技趨勢之演變，使得IC的設計難度提高，相對的IC產品的測試困難度也隨之提高而造成產品開發上的瓶頸，相對於其他IC設計服務公司因不具備所需之測試設備，而選擇將IC測試工作採取委外的運作方式，巨有科技提供給客戶是一條鞭之全方位測試服務環境，利用內部自有的測試設備除了可降低整體測試成本。