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NI擴展RF與微波測試作業的組合
 

【CTIMES/SmartAuto 陳盈佑報導】   2010年01月14日 星期四

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NI近日發表新的二款RF訊號處理模組,不僅提升PXI架構RF與微波測試系統的彈性與精確度,更進而擴充自己的自動化測試產品系列。在如RF訊號路徑衰變模式、場強計量,與接收器測試的應用中,工程師可使用新款NI PXI-5695 - 8 GHz可程式化RF衰減器,搭配向量訊號產生器 ,於低功率提升RF訊號的品質。工程師亦可整合NI PXI-5691 - 8 GHz可程式化RF前置放大器(亦可做為功率放大器),搭配VSG可提升最大功率;而搭配向量訊號分析器可量測低功率訊號。

PXI-5695為50 MHz-to-8 GHz的雙通道可程式化RF衰減器,具備固定與可程式化的衰減路徑各一組。此款模組並可透過整合方式以調整RF功率,並可視情況取代RF生產測試器中的切換衰減器網路。工程師可整合PXI-5695與RF訊號產生器(如 NI PXIe-5673 - 6.6 GHz VSG),達到最高60 dB總衰減與1.3:1的電壓駐波比,以精確控制訊號功率。此控制功能將可大幅提升VSG的動態範圍,且為接收器敏感度精確量測作業所必備。

PXI-5691則為50 MHz-to-8 GHz的雙通道可程式化RF放大器,可做為前置放大器與功率放大器。此款放大器可超過20 dBm最大輸出功率、最高60 dB總增益、0.5 dB增益解析度、+31 dBm的3階截斷點(IP3),與5 dB雜訊指數;不論是整合RF訊號產生器或分析器,均可提升量測作業的彈性與精確度。若搭配NI PXIe-5663 - 6.6 GHz VSA,則新款放大器可達到同級的 -163 dBm/Hz輸入雜訊水平。當搭配NI PXIe-5673 VSG,則放大器可達最高20 dBm功率強度,以最高100 MHz瞬間頻寬進行訊號產生作業。

新款衰減器與放大器均屬於NI PXI平台,並為搭配NI LabVIEW圖形化系統設計環境而最佳化,同時亦考慮到NI LabWindows/CVI ANSI C軟體開發環境、C、C++與.NET程式設計功能。此外,各種儀器驅動程式亦包含LabVIEW範例程式碼,可協助工程師迅速入門圖形化程式設計功能,並開發自己所需的R 與微波測試系統。

關鍵字: RF  微波測試  NI  無線通訊測試 
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