Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驱动IC测试系统(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex专门设计用以测试高分辨率LCD驱动器IC。奇景光电(Himax Technologies Limited)为位于台湾的无晶圆驱动IC设计厂商，采用此系统测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC。奇景光电目前使用D750Ex进行生产。

奇景光电的业务包括设计、开发、营销对平面显示器至为关键的半导体产品。奇景光电的技术长蔡志忠表示：「我们选择了D750Ex是因为这套系统生产效能高、体积小，非常能符合我们在生产、产品上市以及测试成本方面的需求。D750Ex的弹性转换功能让我们不但可以测试LCD驱动IC，也能于同一平台上测试逻辑设备。」

D750Ex系统确实提供了一个每脚端(Pin)高密度资源的架构，可支持整体程序超过97%的平行测试效率。D750Ex 也同时具备嵌入式DSP与中央式DSP的架构，可增加处理效能。此系统的体积很小，与必须同时使用大型计算机柜和测试头的竞争对手系统相较，所需的空间减少了50-85%。D750Ex采用一万用接口埠(Universal Slot)的架构，可根据设备测试需求将多种类型设备放置于同一系统中。D750Ex也提供了内存测试选项(Memory Test Option, MTO)，无须额外的埠即可在一次完成测试行动驱动IC。在竞争对手的系统上，行动设备必须于两个平台上测试，一个平台测试LCD，另一个平台测试内存。D750Ex适用于各信道的「任一脚端」架构，大幅简化了探针卡的设计，也使得多点测试的开发环境更为弹性。