惠瑞捷(Verigy) 宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备 (ATE) 机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。多功能的V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等。以供应各种内存解决方案的内存制造商Numonyx经过多方的评估比较后，证实已经选中V6000，从事NAND组件和良品裸晶 (KGD) 的大量晶圆测试。V6000机台具备的并行测试能力、性能、以及低测试成本是这套系统脱颖而出的主要原因。

所有的V6000系统皆采用惠瑞捷专利申请中的Active Matrix技术，以及第六代的Tester-Per-Site架构，两者搭配可提极低的测试成本。Active Matrix技术能进行大规模的并行测试，支持的I/O Pin超过18,000个，可程控电源供应Pin亦超过4,000个，且因大幅缩短通往脚端接口电路 (Pin Electronics) 的信号路径，而能提供极佳的信号完整性 (Signal Integrity)。相较于传统的内存自动化测试设备架构，V6000可提供四倍的并行测试能力，每支脚位的测试成本却只要原本的一半。V6000具备可扩充的交流测试效能，速度涵盖140、280、560、到最高880 Mbps。