半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)发表最新多功能、高产能H5620记忆体测试机，能针对DRAM和LPDDR(低功耗双存取同步动态随机存取记忆体)装置进行预烧及记忆体单元测试。

5G技术时代来临，全球DRAM位元消耗预估将在2023年近??翻倍，而此波需求成长背後的主要推手，正是持续成长的资料处理和行动通讯市场，不仅资料中心要求更多记忆体，智慧型手机解析度升级、新增摺叠功能和多镜头设计等也是原因。随着记忆体IC平均售价持续缩水，半导体制造厂不可免的需要另辟蹊径，缩减测试成本、扩大产量。

效能优异的爱德万测试最新测试系统，能够满足这样的需求。H5620在生产环境中，能以100-MHz频率和高达200Mbps的资料传输率，平行测试超过1.8万个元件。此外，H5620能因应工厂自动化需求，还有具备个别热控制稳定度的双温箱结构，支援从-10。C到150。C大温度范围测试。

不仅如此，新系统结合原有记忆体单元测试与记忆体生产设备的预烧测试流程，不仅有助客户降低资本支出，也能节省工厂空间。

爱德万测试记忆体自动化测试设备事业群??总Takeo Miura表示：「这款测试机兼顾优异生产力与低廉测试成本，为检验现今最新DRAM元件的测试标准树立了新标竿。」

H5620使用具备多元工具组合的FutureSuite?作业系统。有了这套软体，测试机很容易能与爱德万测试原本的记忆体测试系统相容。另外，爱德万测试全球支援网也能立即提供客户在程式编码、除错、关联性分析和维修等方面的协助。

最新H5620测试机台已开始出货给客户，H5620ES工程模型也将於2020年第二季准备就绪。