帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
2017 R&S年度科技論壇將介紹最新5G與IoT量測技術與應用
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2017年11月01日 星期三

瀏覽人次:【3644】

台灣羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz Taiwan Ltd.) 將在11月15日、16日分別於台北及新竹舉辦其2017年度科技論壇,將以市場應用面為主軸及主題分場方式針對5G行動通訊、IoT、毫米波天線陣列技術、車載通訊標準 (V2X) 、汽車雷達技術、高速影音傳輸及數位電視標準等炙手可熱的議題進行深度討論。

2017 R&S年度科技論壇
2017 R&S年度科技論壇

Rohde & Schwarz將邀請到來自學界、通訊產業領導廠商以及Rohde & Schwarz德國總部的技術專家們分享技術新知,藉由不同的觀點探討未來發展的可能。會中除了介紹最新的技術演進與標準制定之外,同時也針對隨之而來的各種測試挑戰提供一系列多元量測解決方案介紹,內容包括多天線MIMO、波束成形天線陣列等,有助於克服從研發到生產各階段所面臨的種種問題。

Rohde & Schwarz也將與資策會、中山大學、中正大學、聯發科、旺矽科技等多家合作夥伴攜手合作進行現場實機測試,展示內容涵括NB-IoT基站與終端設備開發測試、5G毫微米波束集成測試解決方案、智慧型高速天線場型量測、多天線OTA測試解決方案、晶圓量測應用。

關鍵字: 量測  羅德史瓦茲 
相關新聞
R&S與IMST專利天線數位孿生解決方案 優化汽車無線連結
R&S在歐洲微波周展示光子學6G超穩定可調太赫茲系統
R&S與cetecom advanced合作開發下一代eCall緊急呼叫系統
台灣三豐量測軟硬體齊發 整合數據自動生成量測程式
[自動化展]心得科技整合量測自動化系統 協同中小企業數位減碳升級
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 光通訊成長態勢明確 訊號完整性一測定江山
» 分眾顯示與其控制技術
» 新一代Microchip MCU韌體開發套件 : MCC Melody簡介
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 公共顯示技術邁向新變革


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.128.95.199
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw