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華邦電子選中惠瑞捷測試快閃記憶體晶圓
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2008年12月17日 星期三

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惠瑞捷(Verigy) 宣佈,快閃記憶體供應商華邦電子 (Winbond) 已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統,供台中廠使用,以測試SpiFlash序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI),廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。

V5400針對快閃記憶體的晶圓測試,提供多達4608個I/O通道,且每套系統可以做彈性的配置,最多可測試144個元件。因此,相較於傳統的快閃記憶體測試系統,可以大幅降低測試成本。V5400採用彈性的第五代Tester-Per-Site®架構,可以讓製造商測試各式各樣的記憶體元件。

關鍵字: 惠瑞捷  華邦電子  半導體製造與測試  快閃記憶體 
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