市場對於高速串列介面物理層的傳輸速率要求越來越高,現在PCIe 3.0版本可以達到8Gb/s,而USB 3.0也可達到5Gb/s。不過無論是SATA、USB、HDMI、PCIe等高速串列傳輸標準,在發射端、接收端、測試治具和傳輸線之間分析路徑上所有可能的訊號損壞狀況,因此變得更加複雜。量測系統所提供的邊際效益成為關鍵要素。
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Tektronix高速串列應用產品行銷經理Sara Boen |
Tektronix高速串列應用產品行銷經理Sara Boen表示,這些高速串列通道的傳輸效能正面臨重要的技術挑戰,這包括降低纜線長度對於傳輸訊號的干擾、以及降低訊號在發射端和接收端之間傳輸的衰減、接收端能否適切地接收到訊號並且加以解碼等等關鍵環節。因此完備發射端和接收端的量測方案,才能夠全面地掌握高速串列傳輸標準從實體層到物理層等軟硬體的全面分析能力。
Sara Boen進一步表示,越來越快的資料傳輸率,量測設備需要的模擬頻寬也會越來越寬,訊號捕獲量和採樣率也會跟著提高。整體來看,因為傳輸速率越快,測試的雜訊越多,降低雜訊是量測高速串列傳輸訊號的必要能力。
Sara Boen指出,在接收端部份,量測高速串列傳輸通道的解決方案就採用嵌入式訊號的模式,即時示波器結合誤碼測試儀的工具就非常關鍵。在發射端部份,如何取得更為精確的訊號源,將衰減的訊號復原回來也不可或缺,這時可採用de-embed的模式,將衰減過的訊號還原。在這裡,取樣示波器搭配SDLA軟體,可以模擬S參數,進行de-embed訊號的模擬。此外,任意波形產生器也可以產生各種高串列傳輸波形或誤差值變數,進行各項訊號模擬測試作業。強化眼圖和抖動功能,也是提昇高速串列傳輸訊號分析能力的重點。而強化眼圖和抖動功能,也是提昇高速串列傳輸訊號分析能力的重點。
Sara Boen認為,在相容性測試部份,除了可進行先期驗證是否符合相關標準外,提供深入除錯功能也是量測廠商服務客戶的必備要件。此外,量測儀器的自動化設計也能降低高速串列傳輸測試的時間成本。更重要的是,提供一套平台藉由軟體轉互換的量測方式,也才能因應不同高速串列傳輸標準的測試需求。