美商國家儀器(National Instruments,NI)將於五月八日在網際網路上舉辦第四屆自動化測試高峰會(Automated Test Summit 2007)，此次技術研討會，將著重在未來的趨勢探討，以及超越自動化測試的新挑戰。網站上的內容將提供九十天的隨選即播功能。在免費的全天研討會中，與會者可檢視主題展示、觀賞技術研討會、參與現場問答討論區、以及在展示區中與廠商互動。

「NI每年皆與技術領袖以及ATE供應商合作，主辦自動化測試高峰會。在會中，我們將呈現最新的測試策略和技術，以處理頂尖電子製造廠商的測試工程師和資深經理所面對的挑戰。」NI自動化測試產品經理Kevin Bisking表示。「為了使工作負荷越來越重的工程師更容易參加研討會，今年NI在線上主辦這次的研討會。工程師可以用自己最方便的方式，了解測試開發的最佳實務範例。」

微軟(Microsoft)、英特爾(Intel)、太克(Tektronix)、Averna以及BAE Systems等公司的代表皆將於研討會中分享他們的技術專業知識及最佳的實務方法。NI事業和技術部門Mike Santori將以：「開發新一代測試系統」作為他的演講主題。德州儀器(Texas Instruments)自動化基本架構經理Marvin Landrum則負責下午「開發通用測試程式策略」主題演講。

此次技術研討會包括，如何採用通用測試系統技術來降低成本；使用新一代技術提升系統效能；如何制定、開發通用測試程式的策略以及將新量測加入測試系統的最佳實務方法等四大主題。