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R&S總裁:LTE終端認證測試不容忽視
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 報導】   2009年04月02日 星期四

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羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz,R&S)總裁兼首席營運長Mr.Christian Leicherk在西班牙巴塞隆納2009年世界行動大會(Mobile World Congress 2009)期間,參與由中國移動(China Mobile)、沃達豐(Vodafone)與Verizon Wireless所主辦的「全球LTE產業高峰會」,為量測儀器設備廠商唯一代表。

Mr.Christian Leicher就「LTE FDD和TDD(TD-LTE)終端認證及測試解決方案」發表公開演說,分享終端認證測試GSM/WCDMA在營運過程中的成功經驗,並強調終端認證測試將成為LTE未來成功發展的重要依據,此外,說明身為各標準組織3GPP,LSTI,NGMN Alliance,GCF會員的R&S在LTE國際標準化中所做出的貢獻與努力,最終介紹R&S LTE彈性、精準與快速的量測解決方案,以及對於LTE技術相關產品規劃藍圖。

全球超過200家LTE相關供應商參與本次高峰會,並藉本次活動展現全球最大電信營運商在LTE之發展方針以及LTE FDD、TDD單晶片終端之願景,並指出LTE產業發展關鍵在於上下游廠商相互合作,R&S表示,透過此次高峰會之盛況,對LTE未來發展深具信心。

關鍵字: LTE終端認證測試  LTE  羅德史瓦茲  Christian Leicher 
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