惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出，可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體，大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。

惠瑞捷記憶體事業部副總裁Gayn Erickson表示，rost & Sullivan的獲獎肯定了我們前瞻性的創新能力。V6000系統只需一半的腳位測試成本便可提供四倍的並行測試能力，單次觸壓 (one-touchdown) 即可進行針測。它具備的多功能與可擴充性可讓客戶僅需更換新的測試程式與探針卡或是測試載板，即能在單一測試系統上切換測試NAND或NOR快閃記憶體、DRAM以及多晶片記憶體。V6000測試系統的高度彈性可大幅減少客戶的資本設備支出，進而使客戶能因應市場變化而迅速調整不同記憶體的產量。