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應用材料新產品提升10倍晶片追蹤能力
 

【CTIMES/SmartAuto 廖專崇 報導】   2005年06月12日 星期日

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應用材料推出最新版的FAB300系統,可用於測試/組裝/封裝(通稱後段)設備。這套FAB300是一套能為所有半導體設備在效率與成本效益管理上,提供完整解決方案的工廠控制系統。從生產到封裝流程,能提供晶粒階段可追蹤能力(die-level-traceability),其數量每年超過一億顆晶粒(die)。此套提升功能的系統,超越現有相關產品,並可配合現今最大後段設備的所需的產能。

應用材料工廠軟體事業群總經理傑若米.雷德表示,晶粒階段追蹤能力(die-level-traceability)已成為一項不可或缺的技術,此技術可提供客戶更快且更佳的晶片缺陷檢測反應。運用FAB300系統於前後段設備上,個別追蹤檢測晶片的數目一年可比以往多出十倍,同時提升整條生產鏈的良率與利潤。

應用材料FAB300解決方案是套開放架構為主的系統,不需要透過供應商或第三者的協助,客戶可自行寫入程式、改善和執行業務流程,並降低客戶的持續營運費用。FAB300解決方案在工廠鏈上所使用的常見代碼與資料傳輸一致,同時簡化升級、維修和訓練的工作。

此外,除具備晶粒階段追蹤能力,FAB300系統的測試/組裝/封裝功能,可提供客戶依測試特徵作自動化零件配裝,因此特定零件可被組裝到不同的成品內。全世界已有10處主要的晶圓廠採用此套FAB300系統,用於半導體及測試/組裝/封裝設備上,包含最近安裝在中國大陸的系統。

關鍵字: FAB300  應用材料  半導體製造與測試 
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