安立知VectorStar VNA推出UFX去嵌入功能

UFX 进一步扩展VectorStar的功能，以进行on-wafer元件特性描述，以及高速资料传输的测量。安立知的VNA产品线–VectorStar 采用获得专利的 NLTL技术，能提供单一仪器70 kHz到145 GHz的最广覆盖率。该系列VNA 提供研发工程师所需的效能水准，以准确且可靠地建模高频元件，并验证最先进的设计，同时可在确保精度的情况下达到最高处理能力。

配置UFX的VectorStar VNA可为讯号完整性及on-wafer工程师提供多重优势。该VNA解决方案经由强化测试夹具去嵌入来强化模型精度，进而提升首次产能，因此可加速上市时程。同时，亦提供工程师开发具备竞争优势的高速资料吞吐量产品之能力。

配置UFX的VectorStar VNA可为讯号完整性及on-wafer工程师提供多重优势。该VNA解决方案经由强化测试夹具去嵌入来强化模型精度，进而提升首次产能，因此可加速上市时程。同时，亦提供工程师开发具备竞争优势的高速资料吞吐量产品之能力。

完全校正的测试夹具校准技术要求夹具传输路径两端需具备一套完整的校准标准。在无法取得完整校准标准之环境中，传统的方法是假设夹具的两个路径是完全对称并且匹配，但由于这是非典型的方法，因此使用先前的技术将导致大量的去嵌入错误。 UFX选项提供了先进的去嵌入工具，使工程师能随着标准可用性的提高逐步增加校准标准和特征数据，以提高夹具提取准确度。

为协助分析在测试夹具中的隔离缺陷，UFX亦内含定序剥离 (Sequential Peeling) 功能。讯号完整性工程师可根据相位函数匹配，在夹具的某个部分 (例如常见的传输部分) 产生.sNp档。该功能提供了更详细的夹具资讯，进而可以更轻松地改良测试夹具设计。