Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范?

Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术

全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会。本次大会将有超过600间公司参展，并举办1,150场技术和商业简报，来协助13,000多名与会者利用最新光学通讯创新技术，且满足消费者和企业对更多频宽及更高资料中心效能不断成长的需求。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示：「随着100G投入生产及400G设计工作全面展开，与矽晶和系统设计特性分析、验证和除错有关的测试挑战将日益严峻。OFC与会者将能亲眼目睹Tektronix正协助广大的客户不断挑战更高资料速率、新兴标准及尖端科技研发的极限，同时利用我们的高效能解决方案有效缩短产品上市的周期。」

资料中心网路技术提供商希望能不断提升高速资料传输的容量和精确度。 Tektronix提供了一套可分析电气和光学效能特性的完善高效能解决方案，并将在OFC (展位 2339 号) 进行展示，内容包括：

‧ DSA8300 取样示波器：搭配80GHz 光学取样模组，可支援针对TDECQ 以IEEE 802.3bs为基础的400G 光学测试，包括适用于NRZ 和PAM-4 (高达28GBd) 的高灵敏度单一模式/多模式光学量测。

‧ DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器：可利用适用于 400G 标准的即时触发和后等化错误侦测功能，分析单次 PAM-4 讯号。

‧ 支援多OMA系统之光学调变分析软体的端对端示范，包括AWG70000系列任意波形产生器及DPO70000SX示波器，适合空间分隔多工 (Spatial Division Multiplexing) 等应用。

‧ 发布多种新品，将可推动下一代光学装置和互连装置的制造良率明显改善。

‧ 此外，与会者还可以在Tektronix (展位2339号)领取一张有关PAM4测试的教育海报。

「美国光纤通讯研讨会及展览会」(Optical Fiber Communication Conference and Exposition，OFC) 是专为光学通讯和网路专业人士所举办的全球最大型研讨会和展览会。 40多年来，OFC 吸引了吸引了来自全球各地的与会者，在此进行会谈、教学、沟通及推动业务发展。 OFC 2017 将于 3 月19 至 23 日在美国加州洛杉矶举办。

如需了解更多资讯，请浏览网址：http://www.ofcconference.org