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SONDREL:汽车行业正在降低可接受的晶片缺陷水平
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2022年06月09日 星期四

浏览人次:【3874】

由於汽车需要超高水平的可靠性和安全性,汽车行业正在为晶片的「零缺陷」(Zero Defects)设定更严格的目标。「零缺陷」是指行业可接受的缺陷水平,为汽车公司提供交钥匙ASIC设计和制造的Sondrel报告称,他们的规范正在从每百万缺陷(defects per million;DPM)转变为每十亿缺陷(defects per billion;DPB)。

Sondrel工程主管Ed Loverseed解释说明:「零缺陷是一个目标,目标是在制造过程中不断减少缺陷,并在产品到达客户之前通过测试尽可能多消除缺陷组件。运送给客户的缺陷程度与消除故障组件所花费的时间和金钱成反比。因此,挑战在於撷取有缺陷的零件所投入的时间和金钱,与由此产生的缺陷水平之间找到经济平衡,亦即质量成本。

「要考虑的成本不仅是培训、测试、报废和返工等显而易见的成本,还包括在确定测试预算水平时应考虑到的现场处理缺陷零件的可能成本。确定零件在现场出现故障的原因涉及大量的侦查工作,以查明它是随机事件还是表明批次问题会导致代价高昂的召回,这就是为什麽汽车零件对组件具有非常高水平的审计追?,以便尽可能少的汽车被召回。」

Loverseed根据Sondrel多年来为汽车客户制造这些晶片的经验,提供一些可能导致客户退货的真实场景例子。第一种是客户在测试传入晶片时的故障,原因很简单,就是由於他们的自动测试设备出现故障,导致电气过应力或静电放电。显然,这只会出现在客户的网站上,并且很容易追?和修复。二是难以追?的,当零件通过生产测试但在客户的应用程序中失败时。原因可能是测试没有拒绝仅勉强通过的零件,或者在与客户达成一致的测试制度中遗漏了测试的某个方面。三是潜在缺陷,即设备在客户的生产线或现场应用中按预期运行,然後突然失效。这是最坏的情况,特别是如果问题可以追溯到与晶圆厂相关的问题,这可能会导致大量客户退货,而无法快速预测哪些批次的零件可能会出现故障,因为需要时间进行详细的数据分析。

Sondrel专注於从事复杂数位ASIC的设计和制造,作为完整的交钥匙服务,因此负责整个过程,包括实现客户的零缺陷要求。「虽然汽车客户正在引领DPB的发展,但我们现在正在利用我们为帮助实现这一目标而开发的技能,为其他行业的客户提供更低的缺陷水平,」Loverseed补充道。「这使我们在赢得专门从事的大型复杂 IC项目方面具有竞争优势,因为减少了制造中的缺陷,减少浪费,并降低客户的每晶片价格的整体成本。」

关於汽车电子委员会AEC -Q104文件资讯,请浏览网址:http://www.aecouncil.com/Documents/AEC-Q104_Rev-.pdf

關鍵字: 晶片缺陷率  汽車電子  SONDREL 
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