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雷射輔助切割研磨碳化矽效率
提升化合物半導體產業競爭力

【作者: 陳念舜】   2023年12月26日 星期二

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目前在提升再生能源裝置容量和能源效率,皆有高度關聯性的關鍵技術,莫過於利用化合物半導體來製造高效能功率半導體元件,以承受高電壓、高溫衝擊。台灣廠商還具備過去多年來於矽基半導體產業累積的基礎,且有如工研院等法人單位輔導,正積極投入建立材料開發、雷射輔助加工製程等測試驗證平台和服務,將加速產業聚落成型。


尤其是伴隨著交通運具電動化與提升能源效率等需求,包括:碳化矽(SiC)、氮化鎵(GaN)、InP、Ga2O3、AIN等化合物半導體,因為比起傳統矽基材料(Si-based)具備更寬裕的能隙特性,用來製造高效能功率半導體晶片元件,將可有效減省約50%電能轉換損耗、20%電源轉換系統成本,所以極適合提供高功率(>400V)、高電能轉換效率應用,滿足耐高壓(>800V)、高溫及高頻需求。


工研院在2023年舉行的「南台灣策略論壇」也指出,如今化合物半導體已逐漸導入電動車及充電樁、再生能源發電與傳輸,甚至是低軌衛星、5G/6G高頻通訊、人工智慧(AI)基礎裝置、工業設備等低碳生活模式,減省充電時間和電池成本,而極富有戰略意義。依工研院南分院預估其中SiC晶圓市場快速成長(CAGR~15%),2028年全球規模將達到17億美元。



圖一 : 如今化合物半導體已逐漸導入電動車及充電樁、再生能源發電與傳輸,甚至是低軌衛星、5G/6G高頻通訊、人工智慧(AI)基礎裝置、工業設備等低碳生活模式,而極富有戰略意義。(source:II-VI-SiC-for-5G)
圖一 : 如今化合物半導體已逐漸導入電動車及充電樁、再生能源發電與傳輸,甚至是低軌衛星、5G/6G高頻通訊、人工智慧(AI)基礎裝置、工業設備等低碳生活模式,而極富有戰略意義。(source:II-VI-SiC-for-5G)

台灣藉矽基產業築底 構建化合物半導體代工能量

惟若進一步分析現今高功率半導體元件挑戰,便是約有50%成本來自SiC長晶材料和高品質基板,仍由少數國外大廠主導,整體基板產量不足,6吋N型SiC晶圓成為量產主流,也將是台灣半導體產業為來追求上游材料自主化的契機。


然而,基於化合物半導體種類繁多,對於材料自主化與在地設備挑戰大,亟待評估量體較大的材料「優化技術」,並建立「設備改造」能力。台灣因為過去在深耕矽基半導體材料和製造使用技術上,具有漫長且成功的歷史。包括在上游元件製程與下游次系統都有企業長期耕耘,掌握電路整合、成本控制能力,進而打造完整資通訊、汽車電子產業鏈,適合發展化合物半導體材料、製程設備,以及IC設計、封測和模組終端應用。


但如今產業仍處於起步階段,包括上游粉體、長晶及晶球、晶錠、磊晶等原材料,以及元件製造與設計、設備來源皆仰賴進口,又以歐美日IDM廠商為主。未來則可能與垂直分工模式並存,適合引進國外系統廠商,代工製造將是台灣產業轉型,有潛力參與功率電子產業發展的機會。從元件設計、磊晶製造、封裝測試、模組系統等,亟待設立「成品驗證場域」;同時培養或招募足夠國內外化合物半導體人才,投入研發資源,以建立上位戰略智權能量。



圖二 : 如果能更方便加工,提高在量產效應下的生產效率,將有助於壓低半導體材料及其元件、模組的價格。(source:ii-vi.com)
圖二 : 如果能更方便加工,提高在量產效應下的生產效率,將有助於壓低半導體材料及其元件、模組的價格。(source:ii-vi.com)

雷射輔助SiC改質加工 提升效率與品質

此外,因為目前商用碳化矽晶圓片製造流程,係先將長晶所得晶柱切片與整形,再利用線鋸切割機切成晶片,經過粗研磨將晶片整平,而提高平整度(Total Thickness Variation;TTV)、並降低粗糙度;透過精密研磨,將表面粗糙度Ra降至3~5nm以下;最後再透過化學機械拋光(Chemical-Mechanical Planarization;CMP),達到成品晶圓片的規格TTV<3μm,Ra<0.3 nm。


但由於SiC材料硬度約為矽基材料的1.8倍,在現已確認的礦物及化合物中位居第三,僅次於鑽石和碳化硼,將造成目前為晶錠切片主流的鑽石線鋸切割技術,在加工製程中磨耗過大且速度緩慢,而成為大面積晶圓製造瓶頸。代表廠商包括:Asahi diamond(日)、DMT(英)、微鑽石設備(台)等,切割速度6吋約2.4小時/片>48小時/晶錠。依工研院南分院舉例說明,透過線切割厚度約600μm晶圓之後,可能僅得350μm晶圓、切片料損約260μm,包括磨拋及切割耗損材料約占43%。


加上因為SiC基板表面上的任何缺陷,都可複製到外延層,導致SiC晶片的表面平坦化對於高性能元件非常重要。惟其超高機械硬度(莫氏硬度9.3)和化學惰性,使之難以同時達成理想的高材料移除率和良好表面平坦度,後續研磨/拋光不易,利用砂輪進行研磨的使用壽命短。


例如以400號砂輪的耗損率約3μm/min為例,砂輪可供磨耗厚度約8mm,換算推得每顆砂輪僅能研磨44小時即須更換,因此增加研磨成本與時間且量產不易;拋光製程則是速率緩慢,移除率僅有6.9nm/min,等於拋光一片碳化矽晶圓約須8~16小時,成為大面積碳化矽晶圓製造瓶頸。


國際大廠為保有技術與生產的優勢,自2019年起宣示投入新建或自6吋改建為8吋晶圓產線,依國際產業研究機構IHS評估,最快在2023年即將出現量產8吋晶圓。但面對SiC晶錠切片設備問題與挑戰,如日本大廠DISCO、Infineon(德)、SILTECTRA採取先進雷射切割,切割6吋速度達到10min/片、磨拋切片料損80μm,約占13%。


另因應現今全球碳化矽晶圓材料短缺且昂貴,4吋碳化矽晶圓售價高達600美元以上;研磨拋光設備則由日系大廠DISCO與SPEEDFAM壟斷,長遠來看,將嚴重影響台灣產業鏈發展。如果能更方便加工,提高在量產效應下的生產效率,將有助於壓低半導體材料及其元件、模組的價格。


台灣在SiC晶圓製造(切割、研磨及拋光等)方面,雖有製造廠(環球晶、漢磊及太極等)及設備商(創技、世極、凱勒斯)投入,但使用傳統機械加工與國外進口設備並進方式,成本高、速度慢、製程技術仍落後國外。


圖三 : 台灣在SiC晶圓製造方面,雖有晶圓製造、設備商投入,但使用傳統機械加工與國外進口設備並進方式,成本高、速度慢、製程技術仍落後國外。(攝影:陳念舜)
圖三 : 台灣在SiC晶圓製造方面,雖有晶圓製造、設備商投入,但使用傳統機械加工與國外進口設備並進方式,成本高、速度慢、製程技術仍落後國外。(攝影:陳念舜)

南分院也提出製程調整的解決方案之一,便是可透過超快雷射改質軟化方法,先將長晶所得晶柱切片與整形,再利用線鋸切割成晶片,經研磨提高平整度、降低粗糙度;經過超快雷射誘發多光子分子鍵解離效應,破壞聚焦處的碳化矽半導體材料鍵結,分解成矽(Si)、碳(C)與非晶態碳化矽(Amorphous SiC),將呈現柱狀週期性微結構軟化晶圓表面。


之後將經由拋光過程的機械應力輕易去除,大幅降低SiC硬度90%以上,再導入一般SiC晶圓化學機械拋光製程工序快速移除軟化層,去除預定深度的SiC,並達成晶圓/片規格,加速SiC晶圓的製程效率約30%,即可大幅減省拋光研磨製程的時間與耗材、料損。


同時利用其前身為工研院雷射中心優勢,具備完善的雷射源與光學系統開發能量,適合開發雷射輔助改質系統,發展軟化SiC晶圓技術,用以加快拋光效率;進而導入台灣精密機械、加工業可涉足的雷射輔助切割研磨SiC晶錠應用,從入料、超音波裂片、分離晶錠與晶圓、晶錠研磨,直到雷射改質。


進而在SIC晶錠雷射改質技術策略上,分別布局:


1.雷射源壓縮模組「切得好」:如Wolfspeed、DISCO藉由調整雷射源的功率與聚光點位置,在塊狀晶體內形成損傷,減少晶體材料的切口損失,專利脈衝寬度調變技術則朝向更短脈衝雷射布局態勢。南分院為此開發出超快雷射極短脈衝壓縮模組,壓縮每發雷射脈衝寬度至140fs(2025年<100fs),以降低雷射作用於SiC的熱影響,從而減少料損,驗證後可降低切割熱效應,減少料損;


2.光路的聚光點掃描加工方式「切得快」:著重於面狀、圓形等單點聚焦高斯光斑雷射改質方法,整體產速慢、改質料損大。南分院為此開發水平線性光路模組,將雷射光整型聚焦成均勻水平長形光條,提升改質能量均勻與產速,估計Aspect Ratio達12.72(254.6μmx20μm)、均勻度82.5%(2025年1500μmx10μm)。


同時確保4吋SiC晶錠切割品質驗證,研磨後料損僅86μm(表片粗糙度Sz=76μm),優於傳統鑽石切割料損260μm。2025年切割速度≦18mins/片、研磨損失≦50μm。


再將雷射改質後的晶錠,透過超音波裂片模組施加15~35Hz特定頻率,震盪改質後的裂紋進行延伸與擴張;利用調整超音波頭與晶錠間距及功率,完成6吋晶錠裂片,切割速度達到28mins/片、材料損失降低至≦80μm將晶錠與晶圓分離,比起鑽石線切割速度提升5倍、材料損失減少3倍以上,基板製造成本占比降至40%;最後以真空吸附方式取下晶圓,此高效生產系統預估可減少80%能耗,無化學切削液污染的乾式製程可滿足ESG永續發展。


南分院表示,透過導入雷射輔助SiC晶圓快速拋光製程,估計可提升整體製程效率30%及生產效率,進而帶動台灣廠商及早切入SiC半導體材料的關鍵生產技術和設備,突破外商限制,建立領先國際的次世代晶圓及生產設備技術,維持台灣韌性供應鏈的競爭優勢。


2022年已在經濟部支持下,成功開發出SiC晶錠雷射切割加工關鍵技術、晶錠移載等試量產設備,在南台灣建構完善的化合物半導體產業設備與製造能力,增加半導體相關產業量能及就業機會。


且因為晶錠裂片表面粗糙度約為66μm,還須經過研磨設備進行表面研磨,才能繼續進行雷射改質製程。南分院也特別開發專用於4吋~8吋SiC晶錠研磨設備,並透過即時厚度量測系統監控,將晶錠表面粗度研磨至nm等級,再利用機器人傳輸到雷射改質設備,進行下一道次的雷射切割製程。


南分院打造測試驗證平台服務 加速成立化合物半導體產業聚落

值得一提的是,為了過去化合物半導體材料開發流程只能各憑本事,上下游無法接軌運作,只能進口居多。工研院電光系統所營運總監朱慕道指出,南分院還自2018年成立台南、高雄實驗室,並提出「南方雨林計畫」,輔助化合物半導體開發業者落地,並建置材料、元件特性與製程驗證、電性評價平台等雛型品驗證服務(α-site),即時改善以協助材料最佳化、縮短開發過程,以快速導入市場。



圖四 : 工研院電光系統所營運總監朱慕道指出,南分院自2018年成立台南、高雄實驗室,輔助化合物半導體開發業者落地,並建置材料、元件特性與製程、電性評價平台等雛型品驗證服務。(攝影:陳念舜)
圖四 : 工研院電光系統所營運總監朱慕道指出,南分院自2018年成立台南、高雄實驗室,輔助化合物半導體開發業者落地,並建置材料、元件特性與製程、電性評價平台等雛型品驗證服務。(攝影:陳念舜)

包括因晶圓切割表面易受機械加工形成鋸痕與次表面損傷層(Sub Surface Damage;SSD),SSD驗證對於提高晶圓表面品質、平坦度非常重要,但因為SiC晶圓堅硬且化學穩定性高,SSD檢測困難而常被業者忽略,有賴於該平台建立快速簡易的SSD驗證方法,以協助台廠優化晶圓製程,提高拋光品質。


進而攜手半導體/封裝廠等End Users,推動下游產品試量產驗證(β-site)鏈結α-site,以及導入可靠度測試、失效分析等品質管理手法,協助廠商提升試量產批次穩定性,確保材料能被「作得對又好」,與業界共同建立至少13項標準,促其提高使用意願,也助於評估開發6吋SiC晶圓切割拋磨的品質驗證。


未來還可望藉此研發利基,力推於2025年達成開發8吋長晶、晶錠雷射切割設備與模組,以及關鍵製程材料自主化,彌補Disco的6吋切割設備僅獨家供應Wolfspeed,台灣以進口鑽石線切割設備為主的缺口。


最終基於台灣功率元件廠商規模較小,不易取得系統驗證環境,導致因產業認證時間過長,面臨經營資金壓力,南分院因此發展運作AQG-324高功率元件/模組與測試驗證平台與上線服務,確保可通過ISO 17025認證。


最終經由跨業整合材料、製造、設備、設計、模組系統與測試串聯產業鏈,建立化合物半導體技術與測試驗證中心與南部新興產業聚落,以吸引學研界能量培育人才,將材料生產落地高雄、元件製造在南科、模組系統與試量產在新竹/沙崙院區等,以吸引國際合作、挹注廠商資源,而投入化合物半導體策略與布局。


**刊頭圖(攝影:陳念舜)


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