隨著抖動技術規範成為比較介面IC的常用標準,市場上出現了數種能夠總括個別元件的抖動性能技術。其中之一是抖動轉移曲線(Jitter Transfer Function;JTF)技術。透過記錄一個包含鎖相迴路(Phase Lock Loop;PLL)元件的JTF資料,能為設計人員提供不同抖動頻率的性能總括,例如抖動頻寬可顯示元件衰減或放大抖動的區域。本文將討論測量這種函數曲線的技術,並主要解構JTF曲線的斜率和峰值含義。在實驗室環境分析一個含有PLL和低壓差動訊號(LVDS)設備的串列器解串器(SERDES)對,最終並得出詳細的JTF,並同時會解說不同的抖動種類。通過JTF和相關的抖動性能詳解,設計人員可以對兩家供應商提供的IC進行抖動比較,並在設計IC時仍將其抖動頻寬作為考慮。