帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES / 文章 /
半導體測試邁向智慧化解決方案新時代
因應成本與挑戰

【作者: 王岫晨】   2020年08月20日 星期四

瀏覽人次:【15278】

消費者使用的裝置正日漸智慧化,同時也更驅向以軟體為導向。


而半導體產業正經歷一場轉型,包含IC設計與製造方式,以及測試方法。


IC製造商必須盡力縮短產品上市時間,以滿足嚴苛的設計時程。
...
...

使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10則/每30天 5/則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 20則/每30天 付費下載
相關文章
USB供電5.8 GHz RF LNA具有輸出電源保護
半導體長期需求大增 測試設備推陳出新
混合訊號挑戰艱鉅 MSO讓測試得心應手
數位分析不可或缺 邏輯分析儀為除錯而生
新用戶設備加速進入 毫米波市場穩定茁壯
comments powered by Disqus
相關討論
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8B8BHKAFWSTACUK8
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw