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高頻平衡式元件測試
量測精準制專欄(14)

【作者: 林進康】   2003年11月05日 星期三

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平衡式元件(Balanced Device)近兩年來被大量推廣使用,主要因素是可消除雙頻/三頻通訊設備本身內部及外來的干擾。使用平衡式元件的好處有:消除EMI干擾、消除電源供應器的雜訊、消除接地雜訊、抑制偶數階諧波及忍受非理想的射頻接地。目前平衡式元件有平衡式表面聲波濾波器(saw filter)、平衡式放大器、Balun、網路線、Common Mode Choke Coil、IEEE 1394 cable 與無線網路晶片組、天線切換模組(Antenna Switching Module)及前端模組(Front End Module)等等。與同軸或單端(single-Ended)元件相比,平衡式元件在2002年的市場佔有率不及30%,預估至2005年平衡式元件可佔有70%以上的市場。


何謂平衡式元件?

射頻元件的任一端口(port)均由兩個電擊端點組成,針對電擊上的信號行為模式可區分為單端信號模式及平衡式信號行為模式。


  • (1)當其中一個電擊端點被用來傳送射頻信號,另一個電擊端點被用來作為對地參考點,則此端口稱為單端(single-ended),傳統上大部分元件都被設計用於此一信號模式。如(圖一)A所示。


  • (2)當其中一個電擊端點被設計用來參考另一個電擊端點的射頻信號,此為平衡式,(圖一)B所示,該成對的電擊端點稱為平衡式端口(Balanced Port)。



平衡式電路的設計會有成對的對稱性信號,信號通過該元件,如其雙電擊端點信號互為反相,即180度的相差,此種信號模式稱為差模(differential mode)。如果此二電擊端點上信號為同相為變化,此種信號模式稱為共模(common mode),各位可將共模信號想像成EMI的干擾信號。


一般平衡式元件會被設計使用在差模信號模式工作,任何同相位的共模信號會被此差模元件阻絕,無法通過該電路。該特性可降低電路被電磁干擾信號(EMI)所影響。欲精確測試此類型元件電路,會遭遇一些挑戰。例如一個被動元平衡式電路“表面聲波濾波器”,其設計上包含一單端輸入端口及平衡式輸出端口,且其輸入及輸出阻抗並非是傳統的50或75歐姆。使用傳統的向量網路分析儀無法輕易的測得差模/共模信號特性。


《圖一 不同信號模式的射頻元件端點》
《圖一 不同信號模式的射頻元件端點》註釋:(A)理想平衡式對單端式元件,差模信號輸入會產生單端信號輸出,共模信號輸入則無輸出;(B)理想雙平衡式元件,差模信號輸入會產生模信號輸出,共模信號輸入則無輸出。

平衡式網路S參數

我們已很熟悉如何使用網路分析儀及S參數來表示一雙端口元件的特性,S參數的下標符號分別代表信號激發端口及響應端口,如(圖二),元件的S參數總數為端口數的平方,一個雙端口元件會有4個S參數,三端口元件會有9個S參數,四端口元件會有16個S參數,依此類推。多端口元件的測試與雙端口元件測試相似,除了信號可能行走的每一路徑需被測試,還有每一路徑間的隔離度。其他需被測試的參數則取決於個別的元件類型。


《圖二 多端口元件之S參數與平衡式元件之混和模式S參數》
《圖二 多端口元件之S參數與平衡式元件之混和模式S參數》

平衡式元件的S參數矩陣則不相同,以雙平衡式(Full balanced)元件(輸入與輸出端口均為平衡式)為例,如(圖一)B,我們看見其有4個電擊點,如視為4端口元件,則應有16個S參數,但輸入端的一對電擊實為一個輸入端口,輸出端的一對電擊實為一個輸出端口,故其可被視為一雙端口元件,則S參數應為一2×2矩陣,但考慮其信號模式可能有4種,我們將差模與共模及激發與響應做組合,故一雙平衡式元件之S參數實為4×4矩陣,16個S參數,此為混和模式S參數(Mixed-Mode S Parameter),如圖二,其四種信號模式響應分別為:純差模(pure differential mode;DD quadrant)、純共模(pure common mode;CC quadrant)、差模──共模轉換(Differential to Common Mode Conversion;CD quadrant)、共模──差模轉換(Common to Differential Mode Conversion;DC quadrant)。矩陣中的行(直列)為信號激發,列(橫列)為元件響應,參數的下標符號依序分別代表:響應模式、激發模式、響應端口及激發端口。如Scd21為1號端口被注入差模信號,於2號端口的響應功率比值。混和模式S參數充分表現一平衡式元件的線性特性,每個四分之一矩陣分別代表不同信號模式的元件特性,以下一一分別說明;參考(圖三)。


《圖三 平衡式元件16個S參數每個四分之一矩陣及參數意義》
《圖三 平衡式元件16個S參數每個四分之一矩陣及參數意義》

純差模(pure differential mode;DD)

一雙平衡式元件其混合模式S參數的左上四分之一矩陣,為差模信號激發入元件、於輸出端量測差模信號響應,該四分之一矩陣為元件被設計的操作模式,其四個參數分別代表差模信號模式下的輸入反射(Sdd11)、輸出反射(Sdd22)、順向穿透(Sdd21)與逆向穿透(Sdd12)。


純共模(pure common mode;CC)

一雙平衡式元件其混合模式S參數的右下四分之一矩陣,為共模信號激發入元件、於輸出端量測共模響應,對某些元件而言,該四分之一矩陣為元件的設計工作操作模式,其四個參數分別代表共模信號模式下的輸入反射(Scc11)、輸出反射(Scc22)、順向穿透(Scc21)與逆向穿透(Scc12)。


差模──共模轉換(Differential to Common Mode Conversion;CD)

左下四分之一矩陣,為元件差模信號激發入元件、於輸出端量測共模響應的特性,與其他四分之一矩陣相同,其中的4個參數分別是順向與逆向的反射與穿透係數。如一完美對稱的平衡式元件,是不會有此差模-共模轉換的情況發生,亦即該矩陣的4個參數均為0。因此,該矩陣可代表一平衡式元件的對稱性量測。該差模──共模轉換有何重要性?其代表何種現象呢?


此一差模──共模轉換矩陣與平衡式元件產生電磁干擾EMI有關,差模的信號注入元件,卻發生共模信號的響應,為EMI的信號模式。該矩陣值愈大,表示產生的EMI愈大或代表其接地迴路(ground loop)不理想。如(圖四)。


共模──差模轉換(Common to Differential Mode Conversion;DC)

右上四分之一矩陣,為元件共模信號激發入元件、於輸出端量測差模響應的特性,與其他四分之一矩陣相同,其中的4個參數分別是順向與逆向的反射與穿透係數。如一完美對稱的平衡式元件,是不會有此共模-差模轉換的情況發生,亦即該矩陣的4個參數均為0。因,該矩陣可代表一平衡式元件的對稱性量測。


此一共模──差模轉換矩陣與平衡式元件忍受電磁干擾EMI程度有關,共模的EMI信號被注入元件,元件無法有效消除此一EMI信號,進而產生差模的工作信號,此一現象有可能造成系統的信噪比降低。該矩陣值愈大,表示忍受EMI程度愈差或受接地迴路雜訊影響愈嚴重。如圖四。


《圖四 共模──差模轉換、差模-共模轉換之信號模式》
《圖四 共模──差模轉換、差模-共模轉換之信號模式》

三端元件(Three-Terminal Device)

將混模的概念延伸至三端元件,其一端口為非平衡式、另一端口為平衡式,我們必須考慮平衡式端口有共模與差模,在非平衡式端口僅有一單端模式。


該元件的S參數矩陣中的行(直列)為信號激發,列(橫列)為元件響應,與雙平衡式元件不同的是,平衡端口有兩行列,非平衡端口僅一行列。如(圖五)。


此例中,右下矩陣的4個參數為平衡端口的4種可能反射類型,左上為單端端口的反射,其他四個參數分別表示順向與逆向的共模與差模的穿透特性。


《圖五 三端元件之9個S參數》
《圖五 三端元件之9個S參數》

平衡式元件測試──BALUN

一般而言,在一通訊模組中,平衡式電路會有需要與單端電路作連接,此時BALUN便提供這樣的介面,BALUN(BALance-UNbalance)是平衡與非平衡的縮寫,由一轉換器(transformer)組成。


測試方法(一)

因以往傳統的向量網路分析儀大部分都是同軸雙端口,所以在測試BALUN時會用2個BALUN將平衡端互相連接,此成對的BALUN視為一雙端口元件,在這樣的情況下,每一BALUN 基本上是將另一BALUN的平衡端口轉換成單端端口,測出四個S參數,這樣的作法可給予操作者一些BALUN射入損失的慨念,但無法提供完整的BALUN特性,例如 此法無法決定有多少了損耗量是因為平衡端口阻抗不匹配所造成,或是因為振幅不平衡(amplitude imbalance)及相位的不平衡(phase imbalance)所造成。


另一傳統的方法是將 BALUN視為一單端的三端口元件,以向量網路分析儀做三次的雙端口測試(1-2、2-3、3-1),如此的測試法,可得9個S參數,再計算出振幅及相位的不平衡性。此法不但耗時,也無法完整描述BALUN在共模、差模信號模式下的特性。


《公式一 振幅及相位不平衡公式:》
《公式一 振幅及相位不平衡公式:》

測試方法(二)

目前較先進的多端口向量網路分析儀大幅改善平衡式元件的測試架構,可提供精確的儀器校正,搭配內部夾具模擬功能(Fixture Simulator),可精確、簡單的完整測試平衡式元件特性。多端口向量網路分析儀可測得平衡式元件的單端S參數,再利用夾具模擬功能推算混合模式S參數,完整呈現平衡式元件的工作特性,減少研發工程師測試、分析、設計及除錯時間。


與方法一比較,此新測試法可得混合模式S參數,矩陣中對角線的SSS11為非平衡式端口的反射(可得阻抗、反射損失、駐波比), SDD22 及SCC22為平衡式端口在差模與共模下的反射。


SDS21表示當信號注入BALUN時,輸出端僅考慮差模信號時的穿透係數。該項衰減量可能的來源包括:反射不匹配損失、電阻損失及轉換損失。


《公式二 總損失:SDS21》
《公式二 總損失:SDS21》

非平衡端口反射損失:


平衡端口之差模反損失:


轉換損失:


另一決定BALUN品質的參數是計算共模隔離比(Common Mode Rejection Ratio;CMRR),如(圖六),公式為差模增益比上共模增益,此為衡量元件可將雜訊阻絕的品質參數。


《圖六 共模隔離比》
《圖六 共模隔離比》

平衡式元件測試──數位通訊平衡式元件

因具有雜訊免疫及價格上的優勢,平衡式元件目前被廣泛使用在數位通訊上,例如Ethernet、USB、IEEE1394、LVDS、Infiniband等等,一些常被使用的元件包括平衡式纜線(balanced cables)、平衡式傳輸線的PCB版(PC boards with balanced transmission lines)、共模雜訊濾波器(common mode noise filters), 平衡不平衡變換器(balun transformers)等等。傳統上是利用網路分析儀搭配BALUN或是180度混和功率分波器,但此法會有一些問題:(1)BALUN的頻寬不夠,大約至500MHz;(2)一般的BALUN本身的平衡度並不理想;(3)沒有較理想的校正標準件可用來校正平衡端口,所以很難將BALUN的誤差移除。


目前較精確的測試方法是使用具有夾具模擬功能的向量網路分析儀,此法不需使用BALUN,而可直接將元件的混和模式S參數計算出來,此法亦稱為程式分解法。


首先,網路分析儀如同以往激發出單端形式信號(single-ended signal)給予待測物的四個電擊端點,測得元件響應後,利用數學運算式轉換為共模與差模的信號,再算出混和模式S參數。一般數位通訊上的平衡式元件的阻抗大多不是50歐姆,但是網路分析儀阻抗為50歐姆或75歐姆,因此要正確測出元件的參數,網路分析儀必須有阻抗轉換功能。


一般來說,差模阻抗Zdiff會是共模阻抗Zcomm的4倍,亦即Zdiff=4×Zcomm,但一些工業界標準用的平衡式纜線(例如IEEE1394、USB),會直接建議差模阻抗與模阻抗,而不使用上述的公式,(也就是Zdiff≠4×Zcomm,例如IEEE1394 纜線的差模阻抗為110 歐姆,共模阻抗為33歐姆)。因此,網路分析儀必須能設定元件的阻抗值為任意阻抗。。


平衡式元件測試──LAN Cable 測試

將待測纜線如(圖七)裝置,使儀器設定適當頻段(本例為300 KHz至1 GHz),執行校正,設定夾具的port extension,設定阻抗轉換,得混和模式S參數。16個參數中SDD11可得知該纜線的實際阻抗值及反射損失,SDD21代表該纜線的射入損失即衰減量,SDC11為縱向平衡(LCL,Longitudinal Conversion Loss,SB1U1),如(圖八)。另外共模斥拒CMRR(CMRR = Sdd21 / Scc21)亦是一測試參數。


《圖七 LAN Cable 測試架構》
《圖七 LAN Cable 測試架構》

《圖八 LAN Cable 主要參數測試結果》
《圖八 LAN Cable 主要參數測試結果》

接著測試一段4對線的LAN cable,測試其近端串音(Near End Crosstalk ;NEXT),測試架構如(圖九)所示,我們僅測其中兩對線,在儀器端的這兩對測試線分別接上儀器的4個端口,其餘纜線末端均接上50歐姆負載。所測的的SDD21參數即為近端串音規格。此規格所表達的意義為:當信號於某一對線上傳送時,在輸入的同一端,另一對線所感應到的信號強度比值。所得結果如(圖十)。


相對應於NEXT參數的是遠端串音(Far End Crosstalk;FEXT),測試架構與近端串音類似,但須將其中一對線原接至儀器的末端改為另一末端即可。


《圖九 LAN Cable測試近端串音架構》
《圖九 LAN Cable測試近端串音架構》
《圖十 LAN Cable測試近端串音結果》
《圖十 LAN Cable測試近端串音結果》

平衡式元件測試──Common Mode Choke 測試

共模抗流(Common mode choke)在高速數位通訊傳輸線(如IEEE 1394 及 USB)中扮演關鍵角色,當傳送差模通訊信號時,共模抗流可壓抑住共模雜訊,所以評估共模轉差模的S參數如Sdc11及Sdc21便非常重要,此二參數可表示元件壓制住多少的共模雜訊。共模抗流主要的參數有:


  • (1)Sdd21:傳送差模信號的衰減量;


  • (2)Sdc11:縱向平衡(元件的非平衡效應);


  • (3)Sdc21:壓制共模雜訊能力


  • (4)CMRR=Sdd21 / Scc21。



測試方法與一般平衡式元件相同,共模抗流將的4個電擊端點接上4端口網路分析儀,如(圖十一)所示,將所測得的S參數轉成混和模式S參數,即可得上述主要規格,如(圖十二)所示。


《圖十一 共模抗流測試架構》
《圖十一 共模抗流測試架構》

《圖十二 共模抗流主要參數測試結果》
《圖十二 共模抗流主要參數測試結果》

平衡式元件測試──LAN filter測試

LAN filter是一個低通濾波器,也具有共模抗流的特性可壓抑住共模雜訊,測試架構如(圖十三)所示,測試範例結果如(圖十四)。主要的參數有:


  • (1)Sdd21:傳送差模信號的衰減量、截止頻率;


  • (2)Sdc11:縱向平衡(元件的非平衡效應);


  • (3)Sdc21:壓制共模雜訊能力。



《圖十三  LAN filter測試架構》
《圖十三  LAN filter測試架構》

《圖十四 LAN filter主要參數測試結果》
《圖十四 LAN filter主要參數測試結果》

測試纜線夾具要訣

這裡我們提供一些製作平衡式纜線測試夾具的建議,以下的編號對應到(圖十五)上的編號位置:


  • (1)連接網路分析儀校正平面與纜線的這一段延伸線愈短愈好,而且必須維持該延伸線阻抗固定在50歐姆的特性阻抗。如此我們可利用儀器內建的port extension方法,來補償該段延伸線的相位(以及衰減)。而最簡單的方法就是直接在待測纜線上焊上一SMA接頭。


  • (2)夾具上必須有相當好的接地平面。


  • (3)在接近夾具端,盡量保持纜線在雙絞狀況;如果未雙絞部分過長,會影響測試結果,尤其是當待測纜線本身長度不長時特別嚴重。


  • (4)應盡可能減少待測纜線未雙絞部分的串音效應,所以可在兩對雙絞線之間製作一遮蔽板來減少該位置的信號耦合效應。


  • (5)減少每一對線的末端之間信號耦合效應,在每一對線的末端之間設一遮蔽板。




《圖十五 平衡式纜線測試夾具》
《圖十五 平衡式纜線測試夾具》

天線切換模組簡介

目前積體電路的技術可以使工程師設計出小尺寸的射頻模組,同時亦可降低製作成本,一個例子是使用低溫共燒陶瓷技術(LTCC)來設計及發展無線手機的前端模組(front-end module;FEM)或稱為天線切換模組(Antenna Switch Module;ASM),(圖十六)所示為該模組的功能方塊圖。


一般這樣的模組是被放在手機天線與射頻收發部分之間。這樣特別的模組是一個三頻模組,包含有九個電擊點形成的六個端口,其中的三個是平衡式端口(共6個電擊點),三個是單端端口,每一信號路徑或是端口會對應到特定的手機頻帶或模式。第一代的LTCC無線手機模組的接收部分使用單端端口的接法,但未來將整合具有平衡式端口的表面聲波濾波器(SAW Filter)進入接收部分。使用差動技術在接收信號部分可大大改善系統的雜訊性能,這是無線手機模組接收部分最想達到的一件事。


一般在測試LTCC元件必須有高速的測試步驟,快速的切換所有信號的路徑,測試所有相關規格,尤其在產線上必須直接顯示PASS/FAIL 的結果。測試計畫包含有:測試機的切換狀態、待測物控制線狀態、量測參數、頻道設定、校正方式、平衡式量測。測試規格至少包含有:射入損失、衰減、駐波比、輸出相位平衡、輸出振幅平衡、發射與接收路徑隔離度、發射與天線隔離度、接角架構、模式轉換邏輯。


測試天線切換模組十分麻煩,必須有詳細的事前規劃作業,才能事半功倍。



《圖十六 無線手機前端模組功能方塊圖》
《圖十六 無線手機前端模組功能方塊圖》

(作者為台灣安捷倫科技電子儀器事業群技術支援工程部技術顧問)


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