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致茂电子展推出四大主题 营造客户与制造商双赢目标
--专访致茂电子电子量测仪器事业部研展处经理曾汉仁

【作者: 馬耀祖】2003年11月05日 星期三

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《图一》
《图一》

今年十月台北国际电子展又热闹登场,稍有别于往年,今年参展的电子量测仪器相关厂商明显的增多,似乎可以反映出国内电子产业,在为未来蓄积更大的产品开发能量。继去年之后,国内知名量测大厂致茂电子(Chroma)今年再次参展,其展示内容主要为:新型电器安规测试产品、新型LCR Meter系列、完整的电解电容生产测试及验证方案、新代理日本之产品( TOADKK、ECG-KOKUSAI等)。


负责「电子安规测试」及「被动元件测试」的致茂电子量测仪器事业部研展处经理曾汉仁,在展览会场接受本刊之专访时表示,一般的电气安规测试项目都相当耗时,而业者因成本上的考量,经常会做一些不适当的处理,包括:略掉部分认为不易出问题的检测项目、检测耐压时将多个待测物并联测试、缩短测试时间、忽略作业人员的安全以徒手作业等。


电子安规测试首重「安全」,这包括了生产作业人员及产品使用者的安全。针对安全,曾汉仁提到几个实际可行的方法,一是在电子设备之安规测试时,耐压与接地联结可同时测试;二是将测试项目以自动顺序测试功能,来达成减少测试项目间之间隔时间;三是以多机自动化连线来同时测试多个待测物。
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