账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
使用高效能数字转换器 提升相位数组天线测试速度
 

【作者: 安捷倫科技】2013年02月27日 星期三

浏览人次:【180644】

摘要

工程师原本都是使用向量网络分析仪(VNA),来对相位数组天线中的发射/接收模块进行振幅与相位量测。近来制造技术的改良,使得更具弹性且功能更强的发射/接收模块得以大量生产。


然而校验与特性分析却形成制造瓶颈,因为完整的相位数组天线可能包含无数个T/R模块,以及来自数组组件的多个射频输出信道。以所需搜集的数据数量来看,对测得的复杂数组进行校验的时间得长达好几天或好几个星期。为了缩短测试时间,必须采用完全不同的方法。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10/ごとに 30 日間 0/ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 25/ごとに 30 日間 付费下载

相关文章
建立跨领域知识 成为现代工程师刻不容缓的课题
蜂巢式行动装置制造测试大变革
揭开频谱分析仪相位噪声量测整合 相位偏差结果之神秘面纱
「实现行动装置设计关键任务」研讨会实录
相关讨论
  相关新闻
» EMITE 携手 Anritsu 安立知支援 MIMO 的 IEEE 802.11be 测试解决方案
» 是德科技携手欧盟 共同推动6G创新发展
» MWC 2025:Anritsu 安立知 6G 未来连接技术抢先看
» 三星电子选用 Anritsu 安立知 MT8870A 实现 NTN NB-IoT 测试
» Wellell ??博选用 Anritsu 安立知无线传输测试平台, 确保医疗设备品质稳定


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK92R4AU54CSTACUKW
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw